Plaque de test pour puce capacitive - Silicon Designs
EB-J & EB-L
Plaque de test pour puces Silicon Designs 1521, 1522, 1525 et 1531. Utilisable avec les enregistreurs 3330 et 3340 pour un étalonnage rapide.
Prise, carte et câble de test pour modèles L et J, entièrement assemblé, cavaliers inclus.
EB-J & EB-L