Plaque de test pour puce capacitive - Silicon Designs
EB-J & EB-L
Plaque de test pour puces Silicon Designs 1521, 1522, 1525 et 1531. Utilisable avec les enregistreurs 3330 et 3340 pour un étalonnage rapide.
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Prise, carte et câble de test pour modèles L et J, entièrement assemblé, cavaliers inclus.
EB-J & EB-L